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從產品研發到質量控制，該系統可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進行表面微觀測量分析和粗糙度質量評價。白光干涉原理。

Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術的經濟三維光學輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器...

P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將P-17臺式系統的測量性能和經過生產驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合。 這...

自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀P17。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力2D和3D測量，掃描可達200mm無需圖像拼接。結合UltraLite®...

P-7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D...

非接觸式優點就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學輪廓儀集成了六種光學計...

KLA先進的探針式臺階儀Alpha-Step D-600，帶有電動載物臺。可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應力。且其具有5....

產品類型：白光、共軛焦、非接觸μSurf結合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，精確量測物體高度(如下...

μScan采用模塊化設計，特點是快速測量、不接觸、不破壞、自動化，μScan的中心部件掃描模塊(x/y方向樣品掃描)可以和不同的傳感器，(Z方向測量)連用，如C...

AF2 自動對焦(Autofocus)借由探測器的回饋訊號調整物鏡位置，得到待測物焦點，而獲得待測物的確實高度(如下左圖)。CF4 共軛焦(Confocal, ...